电子设备在使用、运输、存储过程中，可能会遇到温度快速变化的场景，比如设备从温暖的室内拿到严寒的户外，或者设备开机后内部快速升温，关机后又快速降温，温度的突然变化会让电子元器件内部不同材料因为热胀冷缩系数不同产生热应力，长期的热应力作用可能导致元器件出现开裂、焊接点脱开、接触不良、参数漂移等问题，影响设备的正常工作。冷热冲击测试就是用于验证电子元器件在温度快速变化环境下的耐受能力，大型冷热冲击试验箱能够容纳尺寸较大的部件或者批量的元器件，完成高低温冲击测试，是电子、汽车、军工、通信行业可靠性测试的常用设备。 冷热冲击试验箱和普通高低温试验箱、快速变温试验箱的结构不同，它通常分为高温舱、低温舱两个独立的舱室，高温舱长期保持高温状态，低温舱长期保持低温状态，测试时通过样品吊篮的移动，将样品在高温舱和低温舱之间快速切换，实现样品在高温和低温环境之间的快速转换，温度转换时间通常可以控制在10秒以内，样品恢复到设定温度的时间也比快速变温试验箱更短，能够产生更剧烈的温度冲击效果，更严苛地考验产品的耐温变能力。大型冷热冲击试验箱的吊篮尺寸更大，能够承载重量更大、尺寸更大的样品，满足较大部件或者多批次样品的测试需求。
在电子元器件的测试中，不同类型的元器件对冷热冲击测试的条件要求不同。常见的民用消费类电子元器件，测试温度通常选择-40℃到85℃的区间，高低温停留时间30分钟，循环几十到上百次；汽车电子类的元器件对可靠性要求更高，测试温度区间通常更宽，部分车规级元器件要求测试温度低至-55℃，高温到125℃，循环次数也更多；航空航天、军工领域使用的元器件，测试条件会更加严苛，温度范围更宽，循环次数更多。测试条件通常会在产品对应的行业标准或者客户要求中明确规定。
开展冷热冲击测试前，首先要确认设备的高温舱和低温舱温度能够达到测试要求，设备的升降机构运行正常，吊篮移动顺畅无卡顿。准备样品时，先对样品进行初始检测，测试样品的外观、电性能参数，确保测试前样品功能正常，记录初始数据。如果样品是电路板或者通电测试的部件，需要提前将测试线连接好，测试线通过设备的测试孔引出，连接到外部的测试仪器上，这样在温度冲击过程中可以实时监测样品的电性能变化，记录样品在温度转换过程中是否出现功能失效。
样品放置在吊篮内时，要摆放均匀，不要堆叠，保证样品周围空气能够流通，样品要固定牢固，避免吊篮移动过程中样品移位、掉落。样品不要超出吊篮的尺寸范围，防止吊篮移动时样品碰到舱壁，损坏样品或者设备。样品放置完成后，关闭舱门，在控制系统中设置测试参数，包括高温温度、低温温度、高温停留时间、低温停留时间、循环次数等参数。参数设置时需要注意，高低温停留时间要足够长，保证样品整体温度能够达到设定温度，停留时间需要根据样品的大小、重量、热容量来确定，大尺寸、厚重的样品需要更长的停留时间，如果停留时间不足，样品内部温度还没达到设定温度就切换到另一个舱室，会导致测试不充分，影响测试效果。
测试启动后，设备会先将高温舱和低温舱分别升到和降到设定温度，待两个舱的温度都稳定后，吊篮会按照设定的程序在两个舱之间移动，带动样品在高低温环境之间切换，完成循环。测试过程中，要注意观察设备的运行状态，监测两个舱的温度是否稳定，吊篮移动是否正常，如果设备出现异常报警，及时停止测试，排查问题。如果连接了外部测试仪器，实时记录样品的电性能数据，观察样品在温度变化过程中是否出现功能异常、参数漂移等问题。
测试完成，所有循环结束后，不要立即取出样品，等样品在常温环境下恢复到室温后，再取出样品，对样品进行外观检查和电性能测试，和初始测试的数据对比，检查样品是否出现外观损坏，比如外壳开裂、密封失效、焊接点脱落等，电性能参数是否在合格范围内，功能是否正常，判断样品是否通过测试。如果有样品出现失效，还可以进一步做失效分析，查找失效原因，优化产品设计和生产工艺。
使用大型冷热冲击试验箱时，因为设备长期维持高低温状态，能耗比较高，测试开始前要确认设备的供电、制冷系统运行正常，避免测试中途断电导致测试中断。日常维护中，要定期检查制冷系统的制冷剂压力，及时清理冷凝器灰尘，保证制冷效果；定期给升降机构的传动部件添加润滑油，保证吊篮移动顺畅；定期检查舱门的密封胶条，发现老化破损及时更换，避免温度泄漏；低温舱容易结霜，定期进行除霜操作，保证设备的制冷效率。
